Deux mod\u00e8les de CIVA vont donc \u00eatre compar\u00e9s entre eux et avec les mesures\u00a0; l\u2019ancien mod\u00e8le de Kirchhoff et le nouveau mod\u00e8le sp\u00e9culaire.<\/p>\n<\/p>\n
Dans le cas du mod\u00e8le de Kirchhoff, la surface r\u00e9flectrice est discr\u00e9tis\u00e9e en surfaces \u00e9l\u00e9mentaires. Ce mod\u00e8le permet de calculer les \u00e9chos de coin et la r\u00e9flexion sp\u00e9culaire. Les \u00e9chos de diffraction ne sont en revanche pas pris en compte correctement. Les \u00e9chos de g\u00e9om\u00e9trie sont calcul\u00e9s \u00e0 partir du principe de r\u00e9ciprocit\u00e9 sur la surface et le fond de la pi\u00e8ce. Pour rappel, le principe de r\u00e9ciprocit\u00e9 consiste \u00e0 intervertir le r\u00f4le de la source et du r\u00e9cepteur, afin de se ramener \u00e0 un probl\u00e8me plus simple. \u00a0Le mod\u00e8le de Kirchhoff repose sur une approximation hautes fr\u00e9quences valables pour des r\u00e9flecteurs plus grands que la longueur d\u2019onde. La pr\u00e9cision de ce mod\u00e8le diminue quand l\u2019angle d\u2019observation s\u2019\u00e9carte de la direction sp\u00e9culaire.<\/p>\n<\/p>\n
Dans le cas du mod\u00e8le Sp\u00e9culaire, le calcul des \u00e9chos de g\u00e9om\u00e9trie est bas\u00e9 sur l\u2019int\u00e9gration du champ acoustique calcul\u00e9 directement sur le r\u00e9cepteur, contrairement au mod\u00e8le de Kirchhoff qui utilise le principe de r\u00e9ciprocit\u00e9. Le champ est ensuite \u00e9valu\u00e9 s\u00e9par\u00e9ment pour chaque mode par la m\u00e9thode des rayons. Pour des surfaces r\u00e9flectrices r\u00e9guli\u00e8res de dimension suffisamment grande le\u00a0 mod\u00e8le sp\u00e9culaire permet d\u2019obtenir des r\u00e9sultats de simulation plus pr\u00e9cis que le\u00a0mod\u00e8le de Kirchhoff. En revanche ce mod\u00e8le n\u2019est pas valable pour des r\u00e9flecteurs de petite dimension devant la longueur d\u2019onde et ne tient pas compte des effets de diffraction sur des coins ou irr\u00e9gularit\u00e9s g\u00e9om\u00e9triques plus petites que la longueur d\u2019onde.<\/p>\n<\/p>\n
La mesure des \u00e9chos a \u00e9t\u00e9 r\u00e9alis\u00e9e sur des pi\u00e8ces isotropes et homog\u00e8nes en acier ferritique. Les incertitudes, dues aux param\u00e8tres m\u00e9caniques, aux d\u00e9fauts usin\u00e9s sur les maquettes et \u00e0 l\u2019homog\u00e9n\u00e9it\u00e9 du mat\u00e9riau, ont \u00e9t\u00e9 \u00e9valu\u00e9es par v\u00e9rification de la reproductibilit\u00e9 des r\u00e9sultats \u00e0 +\/- 3 dB (1.5dB en raison de l\u2019incertitude de la mesure du r\u00e9flecteur de r\u00e9f\u00e9rence et 1.5dB en raison de l\u2019incertitude de la mesure par rapport \u00e0 la r\u00e9f\u00e9rence).<\/p>\n<\/p>\n
Le tableau suivant r\u00e9sume l\u2019ensemble des mesures r\u00e9alis\u00e9es, en pr\u00e9cisant les caract\u00e9ristiques du traducteur et de son \u00e9talonnage, ainsi que le type d\u2019\u00e9cho mesur\u00e9 et le param\u00e8tre qui a vari\u00e9.<\/p>\n<\/p>\n
\u00a0<\/p>\n<\/p>\n
| F (MHz)<\/th>\n | \u00d8 Pastille (mm)<\/th>\n | Mode<\/th>\n | Hauteur d’eau d’\u00e9talonnage (mm)<\/th>\n | R\u00e9f\u00e9rence \u00e9talon (\u00d8 en mm) + sa profondeur<\/th>\n | EF<\/th>\n | ES<\/th>\n | EM<\/th>\n | Param\u00e8tre qui varie<\/th>\n<\/tr>\n |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2<\/td>\n | 6,35<\/td>\n | L(0\u00b0\u00e0 8\u00b0)<\/td>\n | 20<\/td>\n | SDH\u00a0 \u00d82 ,28<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | X<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | Hauteur d’eau<\/td>\n<\/tr>\n |
| L0\u00b0<\/td>\n | 20<\/td>\n | SDH\u00a0 \u00d82 ,28<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | X<\/td>\n | \n N\u00b0\u00e9cho + haut.eau<\/p>\n<\/td>\n<\/tr>\n | ||
| 2<\/td>\n | 12,7<\/td>\n | L0\u00b0<\/td>\n | 50<\/td>\n | SDH\u00a0 \u00d82, 20<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | X<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | Hauteur d’eau<\/td>\n<\/tr>\n |
| 2<\/td>\n | 19<\/td>\n | L0\u00b0<\/td>\n | 50<\/td>\n | SDH\u00a0 \u00d82, 28<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | X<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | Hauteur d’eau<\/td>\n<\/tr>\n |
| \u00a0<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | X<\/td>\n | N\u00b0\u00e9cho + Tilt Trad.<\/td>\n<\/tr>\n | |||||
| 5<\/td>\n | 12,7<\/td>\n | L(0\u00b0 \u00e0 10\u00b0)<\/td>\n | 25<\/td>\n | ES \u00e0 0\u00b0<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | X<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | Inclinaison trad\/surface<\/td>\n<\/tr>\n |
| 10<\/td>\n | lin\u00e9aire(32 \u00e9lts)<\/td>\n | L(0\u00b0 \u00e0 10\u00b0)<\/td>\n | 25 ou 50<\/td>\n | ES \u00e0 0\u00b0<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | X<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | Inclinaison trad\/surface<\/td>\n<\/tr>\n |
| L(-10\u00b0 \u00e0 10\u00b0)<\/td>\n | 25 ou 50<\/td>\n | ES \u00e0 0\u00b0<\/td>\n | X<\/td>\n | X<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | D\u00e9viation angulaire<\/td>\n<\/tr>\n | ||
| L0\u00b0<\/td>\n | 25 ou 50<\/td>\n | ES \u00e0 0\u00b0<\/td>\n | X<\/td>\n | X<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | Lois de focalisation<\/td>\n<\/tr>\n | ||
| 1<\/td>\n | 60-focalis\u00e9<\/td>\n | L(0\u00b0 \u00e0 10\u00b0)<\/td>\n | 290<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | X<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | Inclinaison trad\/surface<\/td>\n<\/tr>\n |
| 3,5<\/td>\n | matriciel(9 \u00e9lts)<\/td>\n | L0\u00b0<\/td>\n | 25<\/td>\n | ES \u00e0 0\u00b0<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | X<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | Inclinaison trad\/surface<\/td>\n<\/tr>\n |
| 3<\/td>\n | lin\u00e9aire(64 \u00e9lts)<\/td>\n | L(-10\u00b0\u00e010\u00b0)<\/td>\n | 25<\/td>\n | TFP\u00a0 \u00d86, 150<\/td>\n | X<\/td>\n | X<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | D\u00e9viation angulaire<\/td>\n<\/tr>\n |
| L0\u00b0<\/td>\n | 25<\/td>\n | TFP\u00a0 \u00d86, 150<\/td>\n | X<\/td>\n | X<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | Loi de focalisation<\/td>\n<\/tr>\n | ||
| L0\u00b0<\/td>\n | 25<\/td>\n | TFP\u00a0 \u00d86, 150<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n | X<\/td>\n | \u00a0<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n EF\u00a0: \u00e9cho de fond, ES\u00a0: \u00e9cho de surface, EM\u00a0: \u00e9chos multiples.<\/em><\/p>\n<\/p>\n \u00a0<\/p>\n<\/p>\n Continuer vers Echos de surface<\/a><\/p>\n<\/p>\n |