Nous croyons que la sécurité des voyageurs, la longévité et la disponibilité des infrastructures et des moyens de transport est un enjeu majeur. Qualité et cadence de contrôle doivent être en amélioration permanente.

 

Matériaux difficiles à contrôler, contrôles à réaliser le plus vite possible sans réduire leur qualité, environnement contraignant, enjeu de sécurité des personnes. Nos compétences et nos outils peuvent être un atout pour sécuriser et optimiser vos contrôles.

Nous sécurisons votre conception de sonde, de maquette ou de procédé

Avec CIVA, nous visualisons le champ dans la pièce à contrôler.

Nous visualisons la couverture de zone, ici pour un multi éléments.

Nous concevons des capteurs innovants.

Notre méthodologie et nos outils nous permettent d’optimiser la taille et le nombre d’éléments et de votre capteur multi-éléments.

Nous vérifions la capacité de votre sonde à détecter les défauts que vous recherchez.

Nous vérifions que les défauts à implanter dans vos maquettes sont bien positionnés afin d’éviter des interactions parfois complexes (transformations d’onde…).

FLUX® peut simuler le contrôle par thermographie infrarouge (IRT). Exemples de cartographies de températures obtenus par simulation pour différentes tailles de défauts, matériaux, fréquences et durées de chauffe (thermographie par induction) :

 
Avec l'aimable autorisation de SAFRAN TECH

Nous réduisons le temps de développement et de qualification de vos procédés

Avec CIVA, nous pouvons simuler les sondes que vous pensez utiliser sur les maquettes dont vous n’avez que les plans avec des défauts tels que vous les imaginez. Tout en virtuel, aucun déchet, aucun investissement perdu, un délai extrêmement réduit.

Nous pouvons faire varier des paramètres pour lesquels une variation expérimentale serait très couteuse ou impossible : Fréquence du capteur, taille de sa pastille, position ou puissance d’une source, tilt d’un défaut de -80° à 80°, orientation préférentielle de l’anisotropie de la maquette… 

Nous évaluons l’impact des paramètres influents

Nous pouvons faire varier des paramètres influents dans une plage déterminée. Que ces paramètres soient liés au capteur, aux défauts, à la maquette elle-même ou à la procédure de contrôle.

Des variations combinées vous permettront de réduire le nombre de maquettes dont vous aurez besoin, d’établir avant leur réalisation la plage dans laquelle ces paramètres auront une influence importante.

Vous pouvez réaliser toutes ces simulations avec CIVA, nous pouvons aussi vous proposer d’utiliser nos capacités de calculs pour gagner du temps en vérifiant, ou non, vos configurations. Nous pouvons mobiliser plus de 25 nœuds de calculs en réseau et en continue. Nous avons aussi des outils internes nous permettant d’extraire des résultats de manière efficience et rigoureuse.

En 2013, nous avons réalisé plus de 50 000 calculs pour nos clients.

Nous  évaluons vos procédés afin de les optimiser

Vous souhaitez vérifier une procédure d’inspection, nous pouvons simuler les différentes étapes de l’étalonnage à l’analyse, en passant par la création d'une courbe DAC, le traitement du signal ou la segmentation des résultats.

Nous pouvons évaluer les performances de détection de la procédure sur des défauts-cibles ou en termes de PoD sur une distribution de défauts-types.

Lorsque la procédure demande plusieurs inspections ET ou UT par plusieurs surfaces d’accès et/ou plusieurs capteurs, nous pouvons estimer quels seront les défauts qui ne seront relevés par aucune des méthodes proposées. Dans ce cas nous pouvons aussi réfléchir à des méthodes d’inspections complémentaires qui pourraient permettre de noter ces indications. Nous pouvons aussi estimer l’apport de chacune des différentes méthodes sur la performance globale, de manière à optimiser le nombre d’inspections nécessaires.

Nous pouvons aussi évaluer les performances de reconstruction tomographiques en fonction du nombre de tirs effectués, de manière à déterminer le nombre minimal de tirs tomographiques permettant de relever les indications.